Kutatási infrastruktúra
2021.12.04.
Pásztázó elektronmikroszkópos (SEM) módszerek
- Szekunder elektron leképezés (SE-SEM)
- Visszaszórt elektron leképezés (BSE-SEM)
- Lokális kristályorientáció térképezés (EBSD és HR-EBSD)
- Lokális elemanalízis és elemtérképezés (EDAX)
- Polikristályos anyagok kvalitatív fázisanalízise
- Textúra vizsgálat
- Vonalprofil analízis (krisztallitméret, diszlokációsűrűség, ikerhatár gyakoriság, stb. meghatározás)
- Vékonyréteg reflektometria (rétegvastagság mérés)
- Rocking görbe és belső feszültségek mérése
- Reciproktér térképezés
- Pásztázó alagútáram mikroszkópia (STM)
- Atomi erő mikroszkópia (AFM)
- Mágnese erő mikroszkópia (MFM)
- Elektromos erő mikroszkópia (EFM), vagy konduktív AFM
- Kelvin próba, felületi potenciál mikroszkópia (SPM)
- Piezo-erő mikroszkópia (PRFM)
- Makroszkopikus minták összenyomása és nyújtása
- Szabadvégű csavarás
- Mélységérzékeny nanoindentáció
- in-situ SEM nanoindentáció